FI-RXF100-RE
產品簡介
紅外發射光譜（Infrared Emission Spectroscopy）是一種直接、無損地獲取（qǔ）物質材料光譜信（xìn）息的紅外檢測手段，是對紅外透射、紅外反射、衰減全反射(ATR)、漫反射等測量方式的有效補充。由於材料自身就（jiù）是紅外的（de）發射源，因此發射光譜應用（yòng）領域比較（jiào）廣，如不適合做透射測量的物質表麵、強腐蝕性且不透光（guāng）的樣品、發射光源的光譜特征、體積較大的物體、距離較遠的目標、超高溫樣（yàng）品的光譜（pǔ）特性（xìng）、等離子體的發射測量等。
黑體 IR-563/301 的技（jì）術參數
卓（zhuó）立漢光自主設計的獨立式（shì）傅裏（lǐ）葉變換紅外發射光譜（pǔ）儀，該（gāi）光譜儀（yí）集成專門的發射平台（tái），可以安裝各種不同的發射附件和參考黑體，滿足不同溫度（dù）下不同材料的表征需求。光譜儀主機（jī）配置雙檢測器位（wèi）置，方便用戶隨時進（jìn）行多（duō）個檢測器的（de）切換測（cè）量。靈活的光路設計，用戶可以選（xuǎn）擇（zé）聚焦（jiāo）光（guāng）路（lù）或者平行光路來適合不（bú）同的樣品。此外，FI-RXF100-RE 也可（kě）以更換內部的光學（xué）元器件，使測量譜區擴展到近紅外波段，滿足近紅外光源的發射測量。
發射光譜的測量方式及注意事項，視樣品形態（tài）的不（bú）同而有所差別。對於薄（báo）膜（mó）樣品，可以將薄膜擔載在金屬基底上進行測（cè）量，以減少基底的輻射；製備樣（yàng）品的厚度不能太大或者（zhě）氣體濃度不能太高（gāo），防止樣品自吸收造成的譜圖發形；如果背景的輻射較強，在計算（suàn）樣品發射率（lǜ）時，需要考慮將背景的發射（shè）強度扣除後，才能得到準確的結果；如果樣品在測量過程（chéng）中釋放出氣體，用戶需要考慮（lǜ）在發射裝置上增（zēng）加吹（chuī）掃，以減少氣體（tǐ）對譜（pǔ）圖的影響。
產品應用（yòng）領域
產品特點
幹涉儀：高*邁克爾遜（xùn）幹涉儀，光路永*準直，穩定性極佳，10 年質量保證
固態激光器（qì）：性能穩定（dìng），使用壽命達 10 年以上
發射源：聚焦光（guāng）路，用戶的樣品或者熱源或者黑體（tǐ）
分束（shù）器：ZnSe 材質分束器和（hé） ZnSe 窗片，防止（zhǐ）光學器件潮解（可（kě）選 KBr、石英分束器）
檢測器：內置雙檢（jiǎn）測器位置，可選（xuǎn）擇常（cháng）溫檢測器或者（zhě）低溫 MCT、銦镓砷，可以實現軟件自動切換
光路設計（jì）：專用的發射光路設計，簡潔緊湊，降低輻射損（sǔn）失（shī），提高輻（fú）射通量
發射附件：可定製各種附件滿足客戶的實（shí）際測試需求
產品技術參數
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光譜範圍 |
標準範圍 500 ～5000 cm-1 （可選 400-7500cm-1、400-10000cm-1、戒擴展到近紅外 12500 cm-1） |
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光譜分辨率 |
優於 2 cm-1，通常使用 8 cm-1 |
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測量方式 |
將（jiāng）樣品（pǐn）放置在聚（jù）焦點，可以選擇不同的溫控儀或者黑體 |
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工作條件 |
工作溫（wēn）度：-5～40℃；工作濕度：0 ～100%R.H. |
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電源（yuán） |
100～240VAC ，50～60Hz, 20W； |
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重量 |
12kg |
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尺寸 |
44 cm×33 cm×18cm(W×D×H；含發射（shè）擋板) |
對（duì）於室溫下的物質的紅（hóng）外（wài）發射測量，www.91光提供了另（lìng）外一（yī）種解決方（fāng）案。通過 FI-RXF 係列傅裏葉變換（huàn）紅外光譜儀主（zhǔ）機和反（fǎn）射附件或者積分球附件，測（cè）量得到材料的反射光譜。根據基爾霍夫定律（lǜ）和能量守（shǒu）恒定理，我們可以非常（cháng）方（fāng）便（biàn）地獲（huò）得室溫下不（bú）透明材料的發射率。詳細解決方案可以谘詢www.91光的（de）應用工程師。
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