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TL-900

TL-900熱釋光測試（shì）係統

TL-900 熱釋光測量係統專為熱釋光測試設（shè）計，可對樣品進（jìn）行熱釋光三維光（guāng）譜， 熱釋光發光曲（qǔ）線，X 射線熒光光譜測量，餘輝衰減（jiǎn）光譜的測量。輻照源可選X 射線或紫外光（guāng）源，樣品倉滿足國標安全輻射（shè）劑量要求，快速加熱模（mó）塊實現（xiàn）多（duō）種升溫速率控製，高靈敏度CCD 可在快速升（shēng）溫過程中實時記錄熱釋光隨（suí）溫度（dù）變化過程（chéng）。
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產品概述
熱釋光，是一種冷發光（guāng）現象，一些（xiē）晶（jīng）體在被加熱時，原來（lái）吸收並儲存在晶格缺陷（xiàn）中的電磁輻射或其他電離輻射會以光（guāng）子的形式釋（shì）放（fàng）出來。物理機製是（shì）發光體被激發時產（chǎn）生（shēng）了離化，被離化出的電子將進入導（dǎo）帶，這時它（tā）可以和離化中心複合產（chǎn）生發光，或被材料（liào）中的陷阱俘（fú）獲。陷阱是缺陷或（huò）雜質在晶體中形成的局部反常結構（gòu）。它在禁帶中形成了局域性能級，可以（yǐ）容納和儲（chǔ）存電子（zǐ）。這些電子隻有通過熱、光、電場的（de）作用才能返回到導帶，到導（dǎo）帶後它們或者和離化（huà）中心複合產生（shēng）發（fā）光，或（huò）者再次被陷阱俘獲。 由熱釋放出的電子同離（lí）化中心複合所產生的發光，稱為熱釋光。熱釋光是形（xíng）成長餘輝發光的重要原因，有的材料的長餘輝可（kě）以延續到十多個小（xiǎo）時。
 
熱釋光原理示意圖
 
熱釋光曲線
熱釋電子（zǐ）的概（gài）率正比於e－ε/kT，ε 是陷阱深度，k 是玻耳茲曼（màn）常數（shù），T 是絕對溫度。熱釋光（guāng）與陷阱深度有關，如線性升溫即恒速升溫時，熱釋光曲線可直觀地顯示材料中的陷阱種類和深度，以及每個陷阱的密度等。熱釋光曲線記錄光強隨著（zhe）溫度發生變化的（de）關係，每一個峰對（duì）應一個特定的電子或空穴捕獲中心。
 
熱釋光應用
熱釋（shì）光（guāng）可應用在放射劑（jì）量測定、考古學和地質（zhì）學的年代鑒別、輻照食品檢測、固體缺陷分析等領（lǐng）域。
土壤（包括岩石（shí）、礦物（wù））的熱釋光（guāng）在地質學中（zhōng）應用非常廣泛，例如地層對比、地質年齡測定、岩相古地理、地質測溫、構造（zào）活動（dòng）研究、變質作用研究、尋找礦床，隕石及月岩研（yán）究等。
2019 年《古陶瓷熱釋光測定年代技術（shù）規範》正式發布並實施，熱釋光年代測量技術成為 古陶瓷（cí）年代（dài）測（cè）量（liàng）和真偽鑒定的權（quán）威技術方法。陶（táo）瓷是由（yóu）天然粘土燒（shāo）製的，粘土又是由石英、 長石和方（fāng）解石等礦物晶體組成。粘（zhān）土中含有微（wēi）量的（de）天然放射性物質鈾、釷（tǔ）、鉀 40 等。當晶體受到這些放射性物質產生（shēng）的天然射線、及環境和宇宙輻照時，會將一部分的輻（fú）射能貯藏在晶體中。在加熱（rè）的條件下，晶體（tǐ）儲存的輻射可以熱釋光的形式（shì）釋放出來。
陶瓷器在燒（shāo）製時經（jīng）過高溫已經把之前儲存的（de）輻射（shè）能量釋放完畢，所以燒製（zhì）結束後，瓷器中的晶體又（yòu）以均勻的速（sù）率重新積累輻（fú）射能。當（dāng）對（duì）陶瓷進行取（qǔ）樣加熱，測（cè）量所累積的輻射能，計（jì）算出該器件燒製（zhì）後（hòu）距離（lí）現在的時間（jiān），從（cóng）而達到斷代的目的。
 
TL-900 熱釋光測試係統
北京www.91光儀器有限公司的 TL-900 熱釋光測量係統專門為熱釋光測試而設計，可以對熱（rè）釋光（guāng）樣（yàng）品進行熱釋光三維光譜（pǔ），熱釋光發光曲線，X 射線熒（yíng）光光譜測量，餘輝衰減光譜的測量。輻照源可選擇 X 射線或者紫外光源，樣品倉具備 X 射線輻（fú）射防護，滿足國標安全輻射劑量要求（qiú），快速加熱模塊（kuài）實現多種升溫（wēn）速率控製，高靈敏度 CCD 檢測器可在快速升溫過程中實時記錄熱釋光的溫度變化過程。
 
 
原位 X 射（shè）線輻照源（yuán）
● 光管電壓 4-50Kv
● 功率（lǜ） 0-50W 連續（xù）可調
● 鎢靶，鈹（pí）窗厚度（dù） 200μm
 
輻射防護樣品倉（cāng）
● 內置監視器方便觀察樣品發光狀態，並具有拍照（zhào）功（gōng）能
● 安全開關，與上蓋聯動（dòng）
● 輻射防護（hù）防（fáng）護（hù）滿足國標GBZ115-2002《低能射線裝置放射（shè）防護標準》，由中國計（jì）量研（yán）究院輻射劑量認證，配測試證書
 
加熱模塊
可在 -190℃ ~ 600℃ 範圍內控（kòng）溫，同時允許光學觀察（chá）和樣（yàng）品氣體環境（jìng）控製。熱台上蓋與底殼（ké）構成一個氣密（mì）腔，可充入（rù）氮氣等保護氣體，防止（zhǐ）樣品在負溫下結霜，或高（gāo）溫下氧化。
● 溫度範圍：-190℃ -600℃
● 最大加熱 / 製（zhì）冷速率：+150℃ /min （100℃時）；50℃ /min （100℃時）
● 最小加（jiā）熱 / 製（zhì）冷速度：±0.01℃ /min
● 溫度分辨率（lǜ）：0.01℃
● 溫度穩定性 ：±0.05℃（>25℃）；±0.1℃（<25℃）
 
實（shí）測案例
下圖為一種無機（jī）長餘輝發（fā）光材料的熱釋光三維光譜以及熱釋（shì）光溫度譜。溫度變化範（fàn）圍為 24℃ ~300℃，升溫（wēn）的速率為50℃ / 分鍾。該（gāi）樣品在 613.5nm 處有最強的（de）發光峰，(b) 圖為從熱釋（shì）光三維光譜（a）中切（qiē）片（piàn）截取（qǔ）得到的（de）熱釋光—溫度譜線，其峰值對應的溫度 Tm=163℃。
 
（a）熱釋（shì）光三維光譜


（b）熱釋光溫度譜


熱釋光等（děng）高線（xiàn）圖
 
TL-900 熱釋光測試係統（tǒng）性能（néng）指標
 
 
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