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SCS1000-AC-A |
本底電壓101-V,EQE的測試(shì)極(jí)限10-6,濾除直流功能(néng) |
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SCS1000-AC-B |
本底電壓101-V,EQE的測試極限10-5 |
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SCS1000-AC-C |
本(běn)底電壓101-V,EQE的測試極限10-4,濾除直流功能 |
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SCS1000-AC-D |
本底(dǐ)電壓101-V,EQE的(de)測試極限10-3 |
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SCS1000-DC-A |
量(liàng)程10nA-1A,分辨率10fA,*大200V電壓(yā)輸出,暗電流:10pA,20W輸出(chū)功率(lǜ) |
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SCS1000-DC-B |
量程10nA-1A,分辨率10fA,*大200V電壓輸出,暗電流:10pA,40W輸出功率 |
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SCS1000-DC-C |
量程10nA-1A,分(fèn)辨率10fA,*大200V電壓輸出(chū),暗電流:10pA,40W輸出功率,雙(shuāng)通道 |
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SCS1000-DC-D |
量程1nA-1A,分辨率0.1fA,*大(dà)200V電壓輸出,暗電流:1pA,40W輸出功(gōng)率 |
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SCS1000-DC-E |
量程1nA-1A,分(fèn)辨率0.1fA,*大200V電壓輸出,暗電流:1pA,40W輸(shū)出功率,雙通道 |
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SCS1000-DC-F |
量程100uA-1A,分(fèn)辨率50pA,*大200V電壓輸出(chū),20W輸出功率,暗電流:1nA |
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OPE-B2 |
近紅外(wài)標準探測器,900-1700nm 標定,間隔(gé)10nm,帶標定證書 |
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OPE-B3 |
矽標準探(tàn)測器,300-1100nm 標定,間隔5nm,帶標定證(zhèng)書 |
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OPE-B3-UV |
矽標準探測(cè)器,200-1100nm 標定,間隔5nm,帶標定證書 |
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OPE-B4 |
近紅(hóng)外標準探測器,900-2500nm 標定,間隔10nm,帶(dài)標定(dìng)證書 |
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QE-F4 |
探針樣品台(35mm*35mm) |
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QE-F6-C-ITC |
3M夾樣品台 |
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QE-F6-H係列 |
氣體密封背電極樣品(pǐn)台(tái) |
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QE-F6-D係列 |
背電極(jí)樣品(pǐn)台 |
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OPE-F4-20 |
20 微(wēi)米真空吸附探針組件 1,磁力吸附探針座2個,行(háng)程(chéng)12mm,調節精度101-m 2,漏電精度小於100PA 3,探針直徑201-m |
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OPE-F4-10 |
10 微米真空吸(xī)附探針組件 1,磁(cí)力吸附探針座2個,行程12mm調節精度0.71-m 2,漏電精度小於1PA 3,探針直徑101-m |
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型號 |
功能以及說明 |
主要應用 |
*大適用樣品尺寸 |
其他說明 |
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QE-F4 |
兩(liǎng)組三維(wéi)可調探針,底座為無氧銅電極 |
QE測試 |
30mm*30mm |
適用於正麵電極和反(fǎn)麵電極兩種測量方式 |
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QE-F6-C |
3M測試夾,位置二維可調 |
IV/QE測試(shì) |
100mm*100mm |
適用於(yú)燃料(liào)敏化類的三明治結(jié)構(gòu)電池 |
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QE-F6-D |
背電(diàn)極(jí)樣品(pǐn)台,探針位置固定, 通過選擇開關選擇(zé)測量不同電池 |
IV/QE測試 |
35mm*35mm |
適用於背麵電極樣品電池,需(xū)要根據樣品大小和樣 品位置定製 |
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QE-F6-H |
背電極氣體密封樣(yàng)品台,探針位置固定, 通過選擇開關選擇測量不同電池 |
IV/QE測試 |
35mm*35mm |
適(shì)用於背麵電極樣品電池,根據樣(yàng)品(pǐn)大小和樣品位 置定製,可以實現氣體循環 |
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QE-F6-C-ITC |
電極在同一個麵上,且間距為 2.54mm的多個 子電池的樣品,總共8個接觸電極, 通(tōng)過選擇開關選擇測量不(bú)同電(diàn)池 |
IV/QE測試 |
35mm*35mm |
適用於背麵電極樣品電池,根據樣品大小和樣品位 置定製,可以實現氣體循環 |
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