MAPS-Zscan係列測量三階光學非線性的Z掃描係統

Z掃描測量係統，可用於研究光子（zǐ）材料的三階非線性吸收特性，三階非線性折射，三階非線性極化率及單光子/雙光子品質因子。此係統將工控機、電（diàn）機控製器、Z掃描（miáo）光路（lù）高度集成，設備占地（dì）小且方便移動。將（jiāng）樣（yàng）品放置好後（hòu），按操作說明可進行一鍵全（quán）自動測量。

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測量三階光學非線性的Z掃描係統
Waynelabs3 的Z掃描測量係統，可用於研究光子材料的三階非線性吸收（shōu）特性，三階（jiē）非線性折射，三階非線性（xìng）極化率及單（dān）光（guāng）子/雙光子品質因子。此係統將工（gōng）控機、電機控製器、Z掃（sǎo）描光路高度集（jí）成，設備占地小且（qiě）方便移動。

將（jiāng）樣（yàng）品放置好後，按操（cāo）作說明可進行一鍵全自動測量。

係統原理示意圖