低溫/磁場兼容的微區（qū）光譜測試係統
Waynelabs3 的核心研發成員具（jù）有十餘年的（de）低溫，強磁場，光譜，自動化控製與采集係統（tǒng）開發經驗。我們將於2024年推出磁場下的微區光學測試解決方案。它支持最高達12 T磁場，低至2.8 K環境下的微區光學測試。包括熒光，熒光壽命，反射光譜，拉曼光譜，偏振分辨二次諧波，光電流，磁光克爾與反射磁圓二（èr）色。主要應用於磁性二（èr）維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征，居裏溫度表征，表麵拓撲磁結構表征，磁疇掃描成像。
與電學測試相（xiàng）比，磁光測試具有微米級的空（kōng）間分辨能（néng）力，因此適用於需要高空間分辨的應用，例如二維材料不同區域的磁性表征與對比，磁疇掃描成像。
此外，由於其無接觸非損（sǔn）傷的特性，測量過程簡潔高（gāo）效且不幹（gàn）擾樣品本（běn）身的物理特性。因此磁光（guāng）測試甚至（zhì）能夠在樣品進行多工序製備的每一步過程中進行表征（zhēng），而不幹擾樣品的製備流（liú）程。例如在製備多層異質（zhì）結時，逐步堆疊上層材料，分別測試每一層堆疊之後的樣品性質變化。
由（yóu）於光學（xué）手段不依賴於電流，因此（cǐ），它（tā）能輔助（zhù）電學實驗獲得更準（zhǔn）確的實驗結果。例如在電流導致的某些（xiē）物理特性測試中（zhōng），采用霍爾方法（fǎ）將不可避免的（de）給（gěi）樣品施（shī）加電流。而光學手段（duàn）則能夠（gòu）將測試和電流兩（liǎng）個量分離，準確的得到不同（tóng）電（diàn）流下樣品的磁性特征。
無需製備電極，給某些空氣或應力敏感的樣品提供了一種更便捷的測試手段。結合眾韋光電的光學密封轉移樣（yàng）品盒（hé），能夠實（shí）現（xiàn）從手套箱至磁體中測試（shì）的全流程樣品（pǐn）的氣氛保護。
我（wǒ）們（men）為螺線管式和劈裂式這兩種（zhǒng）類型超導磁體分別設計了微區磁光測試解決方案：
磁體與低溫分體（tǐ）式（shì），緊湊型超導磁體+光學低溫台
*此圖（tú）僅作為原理示意，以實際為準
可磁場/低溫適配的功能模塊· 反射光譜；
· 拉曼/熒光；
· 熒光壽命；
· 二次諧波；
· 磁光克爾（ěr）/反射磁（cí）圓二色；
· 光（guāng）電流/霍爾（ěr）效應；
· 角分辨。
一（yī）體式變溫（wēn）超導磁體係統，樣品杆（gǎn）式
*此圖僅作為原理示意（yì），以實（shí）際為準
典（diǎn）型數據
13810146393
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