發光體，如白熾燈、熒光燈、LED 等輻射光譜（pǔ）及發光特性的測試，對研究其特性（xìng）有很（hěn）大幫助。係統不僅可（kě）測量光源或其他發射光譜分布，而且可在此基礎上得到積分輻射通量、光通量、色坐標等。
針對（duì）不（bú）同輻射光源的特性，可靈活選擇測試係統，如：寬帶光源和LED 通常分辨率要求（qiú）不高，建議使用SGM100 或短焦距“譜王（wáng）”、“影像譜王”係列光譜儀/ 單色儀（yí）；激（jī）光器、放電燈、等離（lí）子體、原子發（fā）射光譜等分辨率要求高（gāo），建議使用長焦距“譜王”、“影像（xiàng）譜王”係列光譜儀/ 單色儀（yí）；寬波長範（fàn）圍（UV ～ IR），建議采用雙出口單色儀接兩（liǎng）個探測器；測試寬光譜範圍的發光體，需要采用SD 濾光片輪消多級光譜。
發（fā）射光譜（pǔ）測量係統組（zǔ）成：分光係統＋檢測係統＋數據采集及處理係統＋軟件係統＋計算機係統
OmniES-掃描型發射光譜測量係統
OmniES-攝譜型發射光譜測量係統
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