反射/透射光譜共聚焦掃描成像係統
Waynelabs3 的標準反射/透射光譜測試係統，采（cǎi）用（yòng）“所見（jiàn）即所得”的測量方式，即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品（pǐn）成像時看到（dào）測量光斑，成像與測量光路通過電機切換。標準（zhǔn）係統可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求，對於特殊波段可進（jìn）行優化（huà）設計及光（guāng）路定製。
基本功能
· 白光反射譜及Mapping成像；
· 白光透射譜及Mapping成（chéng）像（xiàng）；
· 電動變偏振采譜；（可選）
· 適配（pèi）低溫台、電學樣品台等；（可（kě）選）
· 共（gòng）聚焦方式和（hé）科（kē）勒照明方式；（可選）
· 透射光譜無色散設（shè）計；（可選）
· 入（rù）射及收集光路均（jun1）可配置雙口（kǒu）電動切換。（可選）
應用場景
光學材料的能級及（jí）振動強弱信息探測
· 半導體材料的帶隙（xì）探測；
· 無機光學材料的吸收特性研究；
· 貴金屬納米材料的表麵等離激元共振特性研究；
· 光學材料（liào）的基礎光譜表征。
反射/透射光譜（pǔ）共聚焦掃描成像係統典型參數配置
測（cè）試光源： 光纖耦合鹵素燈；自由空間鹵素燈（可選）
支持光譜範圍： 250 nm - 850 nm；400 nm - 1100 nm；900 nm - 1700 nm
空間分辨率： ＜ 1 μm
電動位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
掃（sǎo）描精度： ＜ 1 μm，步進最小 0.04 μm
偏振控製： 電（diàn）動
測量方（fāng）式： 反射和透射
光路切換方式： 電動，軟件控製
物鏡組： 5X，10X，20X，50X，100X可見光物鏡；反射式物鏡，紅外長焦物鏡等可選
照明光（guāng）源： 高顯（xiǎn）色LED麵光源（yuán）
光譜采集： 光纖（xiān）光譜儀；光柵光譜儀（可（kě）選）
軟件功能：移動視場，切換物鏡，對焦，框（kuàng）選掃描區域均可用鼠標直接在圖像顯示窗口操作；電動功率調整；自動光路模式切換；自動化Mapping；自（zì）動化偏振Mapping；實時處理與顯示數據。
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