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DSR500

DSR500-LBIC微納光電流成像測試係(xì)統

www.91(hàn)光經過多年研究,推出基於振鏡顯微係統的LBIC 係(xì)統。本設備有著快速掃描,高分辨等特(tè)點,可以廣泛應用於:單晶矽(guī)、多晶矽、非(fēi)晶矽、有機半導體、染料敏化等各類太陽能電池研究,也可以應用於GaN 等光電器件的研(yán)究。對光電探測器的量子效(xiào)率, 器件(jiàn)的電阻分布特征,研究太陽能電池光生電(diàn)流的不均勻(yún)性,研究器件吸收和電荷(hé)生成的(de)微區特性,以及光電材料界麵(miàn),半導體結區的品質分布等提供可靠(kào)的分析數據。
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產品概述

產(chǎn)品簡介

微納(nà)光電成像測試係統是(shì)一種利用顯微成像手段,通過不同波長激光進行探測,分析表征光電子器件的短路電流分布,表麵缺陷, 反射率等參數。並通過掃描獲(huò)得的圖像,分析各種參(cān)數的平麵均勻性,為光電器件的結構優化提供參考。

www.91光經過多年研究,推(tuī)出基於振鏡顯微係統的LBIC 係統。本設備有著快速掃描,高(gāo)分辨等特點,可(kě)以廣泛應用於:單晶矽、多晶矽、非晶矽、有機半導體(tǐ)、染料(liào)敏(mǐn)化等各類太陽能電池(chí)研究,也可以應用於GaN 等光電器件的研究。對光電探測(cè)器的量子效率, 器件的(de)電阻分布特征,研究太陽能電池光(guāng)生電流的不(bú)均勻性(xìng),研(yán)究器件吸收和電荷生成的微區特性,以及光電材料界麵,半導體結區的品質分布等提供可靠的分析數據。

係統結構描述:

激光通過掃描透鏡,掃描振鏡,成像透鏡,由顯(xiǎn)微鏡(jìng)聚焦到樣品(pǐn)表麵,激光激發樣品產生(shēng)光電流,光電流信號通過探針引出至(zhì)電流源(yuán)表,再通過軟件在軟件中讀出。掃描時,振鏡是(shì)通過電壓(yā)控製器控製光束的偏轉角度,激光的光斑在樣品的XY 方向(xiàng)上掃描移動(dòng), 軟件記錄每一個激光(guāng)聚焦(jiāo)光斑的位置和(hé)其對(duì)應的電流值,在軟件上同步描繪出光電流成像圖,顯示了樣品的電流(liú)分布。由於采用(yòng)振鏡結構(gòu),光斑(bān)移動在物(wù)鏡(jìng)處是不同位置入射,而不是不同角(jiǎo)度入射,因(yīn)此可以保證入射到樣品不同位(wèi)置的光(guāng)斑模式不會變化

整個係統的結構如下圖所示:包含

■ 光源(激光器或者連續光(guāng)源),
■ 顯微鏡,掃描振(zhèn)鏡,
■ 數字源表,
■ 探針(zhēn)台和計算機軟件等。

係統原理結(jié)構(gòu)如下圖所示(shì):

下圖為光斑(bān)在掃描設定不同(tóng)位置模式沒有變化

產品特點(diǎn)

■ 多(duō)路激光波長可(kě)選;
■ 樣品更換(huàn)方便;
■ 探針可整體位置二維移動,方便測(cè)試樣品的不同位置;
■ 樣品為靜止狀態下實現掃描(mapping),消(xiāo)除普通位移平台模式下(xià)的震動(dòng)影響。
■ 軟件可視化(huà),可任意(yì)選取掃描範(fàn)圍(測試區間(jiān)位置(zhì)通過框圖的方式選取,實現了可視範(fàn)圍即掃描範圍)
應用領域
納米(mǐ)材料,二維材料,晶圓分析,探測器光電性能檢(jiǎn)測, 麵陣探(tàn)測(cè)器Pixel 檢測,器(qì)件電荷生成的微區特性等等

基本參數

 

 

激光器(qì)(光源)

標(biāo)配532nm激光器,能量穩定性1%@4小時 可(kě)選配(pèi)2路激光器用於光電流測試(shì)

 

 

顯微鏡模塊

反射式/透射式LED照明(míng)

物鏡:標配(20X, WD=7.5mm) 超長工作距離 最大(dà)掃描範圍:260 x 200 μm (20x物鏡下) 位置重(chóng)複性:小於1 μm

最小掃描步長:0.2μm 步長可選範圍:0.2-30μm 激光光斑:2μm

 

 

數據采集

電流源表:Keithley 2450

測(cè)量範圍:1nA ・ 1A 暗噪聲(shēng):50pA 分辨率:20fA 準確度: 0.03%

 

 

探針台模塊

直徑65mm真空吸附卡盤 探針座和樣品整體二維移動,方便樣品位置與光斑位置重合

樣品位置單獨二維移動,方便同類樣品更換

樣品位置移動行程25mm,分辨率5μm 探針座:XYZ行程12mm,分辨(biàn)率0.7μm 探針:鎢(wū)針,直徑(jìng)5μm,10μm,20μm可選

 

 

軟件

光電流掃描(Mapping):可以設定固定的(de)電壓,逐點獲取電流值

I-V曲線(xiàn)掃描(Mapping):可以設(shè)定指定的電壓區間,逐點獲取I-V曲線 指(zhǐ)定區域掃描(miáo)(Mapping)

 

 

光譜響應度測試(選(xuǎn)配)

光譜範圍(wéi)200-1100nm,可以擴(kuò)展到(dào)2500nm

光譜(pǔ)響應度曲線 量子效率曲線 偏壓設置(zhì)功能

 

 

激光器(選項(xiàng))

波長:405nm或者(zhě)635nm可選,其他波長谘詢銷售

能量穩定性:小(xiǎo)於1%@2個小時 功率:10mW和30mW(可選)

軟件測試樣品圖(tú)示
電腦配置:

主機:i7,16G 內(nèi)存,256G 固態+2T 機械硬盤, 2G 獨顯;21.5 英寸電腦顯示器

 軟件功(gōng)能:

  • 光斑位置移動;
  • 選取測試區域;
  • 實現監控開關;
  • IV曲線參數設置;
  • 實(shí)時顯示測試數(shù)據和測試點位置;
  • 顯示測試進度和測試用時間;
功能(néng):

閾值處理;局部放大,等高線顯示,三維顯示,單(dān)點測試數據顯示(shì),導出txt,excel 數據等。

軟件功能說明:

軟件測試界麵如下圖:

各部分功能介紹如下:




數據(jù)分析軟件界(jiè)麵如下圖所(suǒ)示:

該分析軟件(jiàn)有強大的數據處理功能(néng),如下圖所示快捷按鈕。
功能(néng)包(bāo)括:調節適(shì)配數值區域;放大選中區域(yù);回到全部區域;等高線顯示(shì);顯示一條(tiáo)直線上的信(xìn)號分布,三維顯示,導(dǎo)出數(shù)據等。數據分(fèn)析功(gōng)能很多,很強大,幾乎包含常見的數據分析方法。

測試案例:

  1. 矽基探(tàn)測器:有(yǒu)效(xiào)麵120X120um。

測試條(tiáo)件:

  • 532nm;
  • 1mW;
  • 20X;


圖A, 樣品掃描(miáo)區域的CCD 監控(kòng)圖,圖B, 樣品mapping 數據處(chù)理等高線圖以及三維圖。

2. 納米材料-WSe2:有(yǒu)效麵積25X10um

測試條件(jiàn):

  • 532nm;
  • 5mW;
  • 20X;


圖A, 樣品監控(kòng)區域成像(xiàng)圖,圖B, 樣品掃描區域的CCD 監控圖,圖C, 樣品掃描(mapping)數據處理等高線圖以及三維圖。

選(xuǎn)型列表:

規格/型(xíng)號

DSR500-LBIC

DSR500-LBIC-RDB

激光器

波長532nm,功(gōng)率:30mW;穩定性(xìng):1%@2小時

物鏡

20X@奧林(lín)巴斯,WD=7.5mm,波長範圍:350-750nm

探針台

2個探針座

數據采集(jí)

Keithley 2450

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