基於RTS2 顯微係統而搭建,集成拉曼/熒光/光電流原位測(cè)試功能(néng)。該係(xì)統可原位探測拉曼、熒光及光電(diàn)流信號。配合(hé)高精度微米電動位移台,實現(xiàn)Raman Mapping,PL Mapping以及激光誘導光電流成像(LBIC)。深度表征(zhēng)材料內部的(de)分子振(zhèn)動(dòng)能級與轉動(dòng)能級結構(gòu)信息(xī),光生載流子的生成與複合機製,器件吸收和電荷生成的微區特性,光電(diàn)材料界(jiè)麵以及半導體結區的品質分布等特性(xìng)。
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Raman與 Raman Mapping |
Raman 光譜範圍 |
80-9000cm-1 @532激光器 |
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共焦方式 |
針孔共聚焦 |
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靈敏度 |
矽三階拉曼峰的信噪比好於20:1,並能觀察到四階峰 |
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空間分辨率 |
≤1μm@100X物鏡,NA0.9,532nm單縱模(mó)激光(guāng)器 |
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光譜CCD探測器 |
分辨率≥2000x256 量子效率在700nm-870nm區間處>90%, 光譜範(fàn)圍:200 ~ 1100 nm |
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熒光 PLMapping 與 FLIM
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光譜掃描範(fàn)圍 |
200-900nm |
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最(zuì)小時間分辨率 |
2ps或16ps可選 |
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熒光壽命測量範圍 |
100ps-10μs |
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激光器波長(zhǎng) |
193nm/195nm/213nm/266nm/375nm/405nm等多波長穩態與瞬態激光器可(kě)選 |
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空間分辨率 |
≤1μm@100X物鏡@405nm皮秒脈衝激光器(qì) |
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位移(yí)台範圍 |
掃描範(fàn)圍大於300x300mm^2,最小分辨率1um |
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光電流 Mapping
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激光器 |
標配532nm激光器(qì),也可以(yǐ)選擇其他波長激光器 例 如405nm/633nm/785nm等 |
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光路 |
振(zhèn)鏡光路設計,可以兼容低溫台(tái) |
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掃描範圍 |
掃(sǎo)描範圍大於200×200 μm2 最小分辨率1 μm。
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數據采集 |
電流源表:Keithley 2450 測量範圍:1nA – 1A 暗噪聲:50pA 分辨(biàn)率:20fA 準確度: 0.03% 也可以根(gēn)據用戶(hù)需求選擇(zé)
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探針台 |
直徑65mm真空吸(xī)附(fù)卡盤 探針座和樣品整(zhěng)體二維移(yí)動,方便樣品位置與光斑(bān)位置重合 樣品位置單獨二維移動,方(fāng)便同類樣品更(gèng)換 樣品位(wèi)置移動行程25mm,分辨(biàn)率5μm 探針座:XYZ行程12mm,分辨率0.7μm 探針:鎢針(zhēn),直(zhí)徑(jìng)5μm,10μm,20μm可選 |
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測試功能 |
光電流掃描(Mapping):可以設定固定的電壓,逐點獲取電流(liú)值 I-V曲線掃描(Mapping):可以設定指定的電壓區間,逐點獲取I-V曲線 |
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低溫台 |
77k-300k,其餘溫度(dù)可選,電學接口可選 |
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瞬態光電流/光電壓(yā)測試 |
可以增加脈衝激光器例 如ns脈(mò)衝YAG激光(guāng)器 , 進行瞬態光電流/光電壓測試 |
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自動聚焦 |
激光自動聚焦 |
自主研製的激光輔(fǔ)助離焦量傳感器。可在無圖案晶圓上實現精確自動聚焦和表麵跟蹤。輔以(yǐ)圖形邊緣識別,實現雙模式自動調焦。 |
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明場成像(xiàng)與照明係統 |
自主研製的小型化科勒照(zhào)明係(xì)統。照明視場(chǎng)均勻、無暗角,成像視場中心和邊角均有高對比度和解析度。 |
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全自動操作 |
全軟件控製(zhì),自動調焦、尋區、切換物鏡 |
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對焦精(jīng)度 |
在全(quán)掃描範圍自動聚焦和實時(shí)表(biǎo)麵跟蹤對焦精度<0.2 μm |
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晶圓測試 |
樣(yàng)品台 |
8時吸氣台(12時可定製)可(kě)兼容(róng)2、4、6、8吋(duò)晶圓片 |
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功能 |
應力測試,載流子濃度,缺陷檢測等 |
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軟件分(fèn)析(xī) |
可對光譜峰位、峰高和半高寬等進行擬合。可自動擬合並計(jì)算應力、晶化(huà)率、載(zǎi)流子濃度等信息,樣(yàng)品數據庫可定製(zhì)。主成分分析(PCA)和k-均值聚(jù)類處理模塊。將擬合結(jié)果以二維圖像方式顯示。 |
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