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MAMOS係列微區磁光克爾及磁圓二色測試係統

北京www.91光儀器有限公司全新推出(chū)微區磁光(guāng)克爾(ěr)及磁(cí)圓二色測試係統,可根據用戶(hù)需求(qiú)提(tí)供定製化解決方案,產品範圍涵蓋(gài)微區磁光克爾係統和磁圓(yuán)二色測試係統,並(bìng)可根(gēn)據用戶需求升級拓展(zhǎn)拉曼(màn),熒光,熒光壽命及二次諧波等模塊,可用於檢測樣(yàng)品表麵磁性和磁疇結構,適用於磁性材料、二維鐵磁材料和自旋電子器件等應用領域。

 
 
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產品概述


磁光克爾測量技術主要通過探測光和磁性樣品相互作用(yòng)後(hòu)反射光的偏振態變化來研究材料的磁性,在超(chāo)快磁(cí)光存儲領(lǐng)域有重要應用,磁光克(kè)爾測量技術是(shì)一種無(wú)接(jiē)觸光學(xué)測量技術, 在(zài)單原子層微小樣品測量方麵獨具優勢,實現PPMS和SQUID無法完成的測量。微區磁光克(kè)爾係(xì)統是基於磁光克爾效應的非接觸、非(fēi)破壞可直接觀(guān)測磁性材料和器件中的磁化狀態的光(guāng)學顯微(wēi)成像設備,用(yòng)於清(qīng)晰直觀(guān)了解(jiě)樣品(pǐn)內的(de)磁(cí)化狀(zhuàng)態(tài)空間分布和時(shí)間演化,。
北京www.91光儀器有限公司全新推出微區磁光克爾及磁圓二色測試係統,可根據用戶需求提供定製化解(jiě)決(jué)方案,產品範圍涵蓋微區磁光克爾係統和磁圓二色測(cè)試係統,並可根據用戶(hù)需求升級拓展拉曼,熒光,熒光(guāng)壽命及二次諧波(可選配電控偏振)等模塊,可用於檢測(cè)樣品表麵磁性和磁疇結構,適用於磁性材料、二維鐵磁材料和自旋電子(zǐ)器件等應用領域。

  • 非接觸,非破壞

  • 波(bō)長,偏(piān)振態,角度分辨

  • 微區測量

  • 磁疇成像

係統(tǒng)結構:

磁光克爾(ěr)顯微成像(xiàng)測試係統使用多(duō)路鎖相,同步采集,大幅抑製激光功率波(bō)動噪聲。配(pèi)置無磁反射式物鏡或單個非球麵鏡成(chéng)像,極低的(de)法拉(lā)第效應。使用光彈(dàn)調製器,同步獲得MOKE與RMCD數據。產品從空間配置與鍍膜參數嚴格設計及檢測(cè)的光學(xué)元件組,保偏性(xìng)能(néng)極佳。

 
 

主要配置清單

模塊(kuài)

參數

主(zhǔ)體架構

主體尺寸:長 × 寬(kuān) × 高,約 600 mm × 600 mm × 550 mm;
高承重三維電控底座:步進(jìn)電機(jī)位移行程:行程:X*Y*Z 120*120*40 mm;XY最小步(bù)進距離: 0.04 um, Z軸最小步進距離:~0.01 um;最大負載:> 10 Kg;
鋁(lǚ)合金整體架構;
光路整體移(yí)動:1. 光路移出以更換樣品;2. 大範圍尋找待測區域。
靠近磁體部分采用無磁設計;

顯微成像模塊(kuài)

尺寸:長 × 寬 × 高(gāo),約 550 mm × 550 mm × 145 mm;
可見光相機:20M pixels,15fps@5K ,50fps@1.8K, Sony 1 英寸(cùn)CMOS;
物鏡: 適配磁體,無磁(cí)反(fǎn)射式物鏡或非球麵透鏡;
照明(míng)光源: 科勒照明, LED麵(miàn)光源,亮度連續可調(diào);
成像模塊可電控完全移出(chū)光路,且不影響樣品麵光斑位置。

MOKE&RMCD模塊

外(wài)殼尺寸:長 × 寬(kuān) × 高,約 550 mm × 550 mm × 145 mm;
包含所需(xū)的外置設備:鎖相放(fàng)大(dà)器;
低噪聲前置放大探頭;
光彈調製器;
斬波器;
克爾角(jiǎo)分辨率: ~0.5 mdeg  (~ 8.7mrad);
一(yī)次掃場同時獲得RMCD和MOKE數據;
電控切(qiē)換成像與測試;
電控功(gōng)率(lǜ);
Mapping功能,配合步進掃描台,或低溫設備內置壓電(diàn)台。

Raman532&PL&SHG模塊

外殼尺寸:長 × 寬(kuān) × 高,約 550 mm × 550 mm × 145 mm;
拉曼最低波數:< 80 cm-1;
空間分辨(biàn)率:300 nm (532 nm激(jī)光);
電控偏振掃描:起偏&檢偏,角度分辨率(lǜ) 0.0144 deg;
電控功率調整;
Mapping功能,配合步進掃(sǎo)描台,或低溫設備內置壓電台。

532nm窄線寬激光器
MSL-U-532

中心波長:532nm+/-0.1
輸出功率:100mw
功率穩定性:2%(4 小時 RMS)
M2:<1.2
線(xiàn)寬:<0.00001nm
光斑模式:TEM00
噪聲:<0.5%

軟件

MOKE,RMCD,Raman,PL 掃描成像;
偏振掃描;
支持文本代(dài)碼輸(shū)入,以實現自動化測試流程;

典型光路原(yuán)理:

模塊化軟件界麵:

可編程自動化運(yùn)行界麵:

典型數據和論文:



麵掃描,磁疇成像(xiàng),器件成像

本係(xì)統已發表論(lùn)文:

[1] Huang X, et al. Nature Communications, 14(1): 2190.( 2023)
[2] Chen X, et al. Adv. Sci. 10, 2207617.( 2023)
[3] Dai H, et al. [J]. ACS nano, 16(8): 12437-12444.( 2022)
[4] Dai H, et al. [J]. ACS Appl. Mater. Interfaces 2021, 13, 24314−24320
[5] Zhang L, et al. Adv. Mater. 2020, 32, 2002032
[6] Wang M, et al. Nanoscale, 2020, 12, 16427.

可(kě)擴展功能:

拉曼,熒光,熒光(guāng)壽命及二次(cì)諧波

典型實(shí)測數據:
偏振二次諧(xié)波:紅磷納米帶

熒光壽命掃描(FLIM):Cs/FA/MA三陽離子鈣鈦礦

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