半導體參數測試儀_晶圓缺陷測試_晶圓（yuán）少子壽命測（cè）試_深紫外光電流測試係（xì）統_北京www.91光儀器（qì）有限公司

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SPM900半導體晶圓缺陷與少子壽命測試係（xì）統

PL測試是一種無損的測試方法，可以快（kuài）速、便捷地表征半導（dǎo）體材料的缺陷、雜（zá）質以及（jí）材料的發（fā）光性能。其主要功能包（bāo）括：1）組（zǔ）分測定（dìng）；對（duì）三元或四元（yuán）係合金，如InGaN等，通過PL 峰位確定半導體材料的禁（jìn）帶（dài）寬度，進（jìn）...

SPM900半導體（tǐ）晶圓缺（quē）陷與少子壽命測試係統

PL測試是一（yī）種無（wú）損的測試方（fāng）法，可以快速（sù）、便（biàn）捷地表征半導體材料（liào）的缺陷、雜（zá）質以及材料的發光性能。其主要功能包括：1）組分測定；對三元或四元係合金，如InGaN等，通過PL 峰位（wèi）確定半導體材料的禁帶寬度，進...
SPM300半導體晶（jīng）圓應力& 載流子濃度（dù）測試係統

拉曼（màn）光譜作為一種非破（pò）壞性（xìng）檢測技術，能夠高靈敏度地檢測材料中的應力狀（zhuàng）態。其（qí）原理基於光與材料內化學鍵的相互作用，通過分析散射光譜的變化，獲取材料的應力信息。與其他檢測（cè）方（fāng）法相比，拉曼光譜具有快速、無損、空...

SPM300半導體晶圓應力& 載流子濃度（dù）測試係統

拉曼光譜作（zuò）為一種非破壞性檢測技術，能（néng）夠高靈敏度地檢測材料中的應力狀態。其原理（lǐ）基於光與材料內化學鍵的（de）相（xiàng）互作用，通過分析散射光譜的變化（huà），獲（huò）取材料的應力信息（xī）。與其他檢測方法相比，拉曼光譜具（jù）有快速、無（wú）損、空...
DSR300-DUV深紫外（wài）光電流測試係統

本係統通過（guò）193的脈衝激光器或者（zhě）等離（lí）子體光源+單色儀（yí）的連（lián）續193光（guāng）源，對器件的光電流響應進行測量，測量速度約4KHZ，同時通過（guò）標準探測器對激光強度波動進行測量（liàng），對結果進行校（xiào）正。

DSR300-DUV深紫外光電流測試係統

本係統通過193的脈衝激光器或（huò）者等離子體光（guāng）源+單色儀的連續193光源，對器件（jiàn）的光電流響應進行測量，測量速度約（yuē）4KHZ，同時通過標準探測器對激光強度波動進行（háng）測量，對（duì）結果進行校正。
OmniFluo990-DUV 深紫外寬禁帶半（bàn）導體熒光測試係統

深紫（zǐ）外超寬禁帶半導體熒光測試係（xì）統，基於我司20年左（zuǒ）右的第三代半導體表征測試經驗，可以有效地對寬禁帶與超寬（kuān）禁帶半導體材（cái）料例如AlN和（hé）AlGaN等（děng）進行熒光激（jī）發

OmniFluo990-DUV 深紫外寬禁帶半導體熒（yíng）光測（cè）試係統（tǒng）

深紫外超寬（kuān）禁帶半導體（tǐ）熒光測（cè）試係統，基於我司20年左右的第三代半導體表征測試經（jīng）驗，可以有效地（dì）對寬禁帶與超寬禁帶半導體材料例如AlN和AlGaN等進行（háng）熒光激發

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